發(fā)布時(shí)間： 2023-12-15 點(diǎn)擊次數(shù)： 1939次
階梯孔型像質(zhì)計(jì)是用于測量現(xiàn)代光學(xué)系統(tǒng)的重要儀器之一，可以測量透鏡、棱鏡、反射鏡等光學(xué)器件的像質(zhì)。工作原理基于光通過孔徑時(shí)的衍射現(xiàn)象。當(dāng)光線通過不同大小的孔徑時(shí)，會產(chǎn)生不同角度的光線，這些光線會隨著樣品的成像出現(xiàn)在不同的位置。通過觀察不同角度的光線在目鏡上的成像情況，可以得到樣品的像質(zhì)。根據(jù)樣品成像情況，可以確定樣品表面的形貌和誤差。
1.光源：提供光線源，一般采用白熾燈或者氙氣閃光燈。
2.階梯孔：由多個(gè)不同大小的圓形孔組成，分別位于同一平面上，用于制造不同角度的光束。
3.樣品架：用于放置待測樣品，可以通過微調(diào)平臺進(jìn)行調(diào)整。
4.目鏡：用于觀察樣品成像情況，一般采用目鏡或者CCD攝像頭。
5.顯微鏡：用于觀察樣品表面形貌，一般采用高倍顯微鏡或者掃描電子顯微鏡。
階梯孔型像質(zhì)計(jì)在光學(xué)系統(tǒng)中的應(yīng)用：
1.光學(xué)元件制造：可以用于測量透鏡、棱鏡、反射鏡等光學(xué)器件的像質(zhì)，確定光學(xué)元件的精度和誤差。
2.光學(xué)系統(tǒng)調(diào)試：可以用于調(diào)試光學(xué)系統(tǒng)，確定光學(xué)系統(tǒng)的成像性能和誤差。
3.光學(xué)表面檢測：可以用于檢測光學(xué)表面的形貌和誤差，確定光學(xué)表面的精度和誤差。
4.光學(xué)材料研究：可以用于研究光學(xué)材料的性質(zhì)和特性，確定光學(xué)材料的光學(xué)參數(shù)和誤差。
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